透過型電子顕微鏡(Transmission Electoron Microscope:TEM) 

電子のビームを使った装置の一つである透過型電子顕微鏡(TEM)は、
レンズで絞った電子線を試料に「透過」させます。
透過して出てきた"影"を見ることで物質の凹凸の様子をnmの単位で見る事が出来ます。
また、回折波を解析して結晶構造を決定することにもよく使われています。