原子間力顕微鏡（Atomic Force Microscope:AFM）

原子間力顕微鏡（AFM）は、試料表面にカンチレバー（探針）を近づけ、走査させることで
試料表面の凹凸の状態を観察することが出来ます。
また、表面状態を観察するだけではなく電気測定などにも使用できます。